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来因科技植物根系图像分析系统 根系分析仪IN-GX02S用于洗根后专业根系分析，还可以用于根盒培养植物的根系表型分析，可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等，功能强，操作简单，软件可分析植物根系的形态分析及根系的整体结构分布等，广泛运用于根系形态和构造研究。
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来因科技拍照式根系分析系统IN-GX01S能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，还能单独地自动分析任意一段根的长度、面积、体积等，可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数（可不等间距地自定义）。
来因科技植物根系分析仪IN-GX01S配自动对焦的2200万像素彩色拍摄仪。有效分析幅面最大297 × 420 mm。特别适合快速自动分析测量0.5mm直径以上根系。可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积等，及其分布参数。
来因科技根系分析仪IN-GX01S用于对洗净后的0.5mm直径以上根系进行快速拍照和多参数、批量化的自动分析系统。整套系统由高拍仪、分析软件（PC端）、电脑（自备）组成，其成像速度要比扫描款的快20倍。
来因科技原位根系分析系统|原位根系分析仪IN-RS800多期时序分析：支持多个已保存的时序匹配结果按时间顺序自动汇总，直观展示各区间动态变化及根系从萌发到消亡的完整生命周期链路。历史记录管理：统一记录扫描根系、荧光标记根系、时序匹配和多时序分析四类结果，支持按类型、时间、文件夹筛选，分页、缩略图预览、结果恢复、目录打开及上传状态查看，便于数据追溯与管理。
来因科技微根管原位根系分析系统/根系生长动态监测系统IN-RS800专项指标分析：支持根瘤智能识别及体积占比测算、盒维数与分形拟合评价、根尖段长分布分析，以及分叉角、交叠角与根轴质量的综合评价，为根系生理与生态研究提供多维数据支撑。
来因科技复合根系生长动态监测系统|根系生长监测系统IN-RS800根系参数分析：单次分析即可输出根长、直径、表面积、体积、空间宽深比等基础形态参数，并自动解析根系网络的根轴识别、父子层级、拓扑连接、交叠关系及多级根系统计。
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