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来因科技根系生长监测系统|根系监测系统IN-RS800是一套集土培原位根系长期观测、智能识别与动态分析于一体的综合科研仪器，基于人工智能深度学习算法，实现对原位根系图像的自动识别、提取与拼接，大幅降低人工交互工作量，可开展根系基础形态、时序动态、拓扑结构及荧光标记根系识别等多维度分析，为根系生长、周转规律与空间分布研究提供可靠数据支撑。
来因科技根系分析仪IN-GX02用于洗根后专业根系分析，还可以用于根盒培养植物的根系表型分析，可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等，功能*，操作简单，软件可分析植物根系的形态分析及根系的整体结构分布等，广泛运用于根系形态和构造研究。
来因科技原位根系分析仪/原位根系分析系统IN-GXY是一款土壤根系原位平面多层次图像监测仪，可获取土壤、根系侧面剖面图像，监测土壤中活体根系的生长状态，可获取高分辨率图像用于分析根系的详细结构。
来因科技植物根系分析仪IN-GX02能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积。能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，还能单独地自动分析主根或任意一支侧根的长度、面积、体积等，可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数（可不等间距地自定义）。
来因科技高质量根系图像分析仪 根系分析仪IN-GX03S能用盒维数法自动测根系分形维数。可分析根瘤个数，以客观确定根瘤菌体贡献量。大批量的全自动根系分析，批量保存，可将整体数据汇总后保存在一个表格中，也可保存每一个根系的详细数据。
来因科技高分辨率植物根系分析仪 根系分析仪IN-GX03S可分析测量：根总长；分支频率；根平均直径；根直径中值；最大直径；根总面积；总投影面积；根总体积；根尖计数；分叉计数；交叠计数；根直径等级分布参数；可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积等，及其分布参数。
来因科技高质量根系扫描仪 根系分析仪IN-GX03S利用高质量图形扫描仪获取高分辨率植物根系彩色图像或黑白图像，该扫描仪在扫描面板下方和上盖中安装有专门的双光源照明系统，并且在扫面板上预留了双光源校准区域。此外，还配备有不同尺寸的专用、高透明度根系放置盘。
来因科技高分辨率根系分析仪 根系分析仪IN-GX02S本款根系分析软件可以读取TIFF，JPEG标准格式的图像。针对获取的图像，利用插入jia密狗解密的软件，对扫描获得的高质量根系图像进行分析。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度、直径、面积、体积、根尖等基本的形态学参数。从而满足研究者针对植物根系不同类别和层次的研究。
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