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来因科技叶绿素荧光成像分析系统 叶绿素荧光成像仪IN-Leaf100PAM调制荧光测量：时间控制：暗适应/暗弛豫时长 0–3600 s；每次监测时长 1–600 s；最小采样间隔100 ms；脉冲控制：测量脉冲时长100 ms；饱和脉冲时长800 ms。
来因科技叶绿素荧光成像分析仪 叶绿素荧光成像仪IN-Leaf100光源控制： LED强度1–100% 连续可调；测量时间：0.1–1.0 s（默认1.0 s，可完整覆盖O-J-I-P上升曲线）；采样形式： 最小采样间隔10 ms；支持分段采样（0–100 ms快速采样，100–1000 ms慢速采样）。
高光谱植物表型成像系统主要用于对植物表型进行测量与分析的设备。系统分别在顶部、侧上方以及侧下方设置了可见光成像单元，在侧下方设置了高光谱成像单元，根据底部旋转台设备的转动进而获取植物的表型信息。系统使用了以人工智能为基础的三维成像技术，以多视角结合的方式动态生成植物的三维模型，并且可以根据模型计算植物的株宽、株高、骨架、ASM、SSIM、NDVI等形态、颜色、纹理、高光谱参数。
来因科技叶绿素荧光成像系统IN-Leaf100红光 (R)：630 nm，用作测量光，精准探测基础荧光。蓝光 (B)：450 nm，作为主激发光源（提供光化光与饱和脉冲）。远红光 (FR)：730 nm，选择性激发光系统I（PSI），实测光适应态最小荧光Fo'。
来因科技移动式作物生长监测仪IN-ND300可测量冠层叶面积指数（LAI）、叶片平均倾角（MTA）、聚集指数1（ACF）、聚集指数2（ACF）、树冠开阔度（DIFN）、天空散射光透过率、不同太阳高度角下的植物冠层直射辐射透过率（间隙率 透光率）、不同太阳高度角下冠层的消光系数、叶面积密度的方位分布（不透光率）。
来因科技便携式多光谱植被指数与冠层分析仪IN-ND300FVC算法:支持4种植被覆盖度算法，可生成黑白二色图和彩色对比图；可实时反馈图像传感器的俯仰角、翻滚角和方位角，当前经纬度；支持调整图像的曝光，饱和度，白平衡，对比，亮度，增益等调节，支持图片自定义裁剪。
来因科技多光谱植被覆盖度测量仪IN-ND300检测项目：归一化植被指数NDVI、覆盖度FVC、比值植被指数RVI、差异植被指数DVI、土壤调整植被指数SAVI、 红边叶绿素植被指数RECI、改良土壤调整植被指数MSAVI、优化的土壤调节植被指数OSAVI、绿度色彩指数GCC、相对红度指数RCC、相对蓝度指数BCC
来因植被冠层多光谱分析仪IN-ND300支持点选位置或框选区域的光谱影像数据进行查看具体数值，可直观呈现目标点位/区域的数据特征值；终端配置: 16G运行内存， 256G存储；支持北斗定位；支持4G网络，蓝牙,WIFI；软件系统: Android12系统；整体规格: 重量3KG,整体长度约140cm；工作环境: 工作温度：-20 ℃～60 ℃ ； 工作湿度：0%～95% RH（无凝结）。
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