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来因科技根系分析仪IN-GX01S用于对洗净后的0.5mm直径以上根系进行快速拍照和多参数、批量化的自动分析系统。整套系统由高拍仪、分析软件（PC端）、电脑（自备）组成，其成像速度要比扫描款的快20倍。
国产大型叶绿素荧光成像平台 来因科技大尺寸叶绿素荧光成像系统IN-Leaf200★参数自动保存：LED亮度、测量时间、循环次数等参数一经修改即自动写入配置文件，下次启动自动加载，无需重复设置。★上传云端：可以将分析后的所有参数数据保存至云端，并支持随时查看云端数据。
来因科技国产大尺寸叶绿素荧光成像系统 叶绿素荧光成像分析仪IN-Leaf200★成像面积：最大40cm × 38cm；★检测样品类型：离体叶片、拟南芥、烟草、水稻、小麦、玉米等不同生育期（苗期至中大型成株）的盆栽植株，以及高通量多孔育苗穴盘；★适用植物高度：最大85 cm；★成像架构：专业立式光路设计，镜头自上而下俯视成像；成像模块及光源系统可直接通过软件控制升降，根据样品调节适配高度。
来因科技国产叶绿素荧光成像仪 叶绿素荧光成像分析仪IN-Leaf200涵盖三种核心测量模式：OJIP快速荧光动力学测量、PAM调制荧光测量以及RLC快速光响应曲线测量，能够全面评估植物光合系统的活性、光能利用效率、形态结构特征以及对环境胁迫的动态响应。
来因科技叶绿素荧光成像系统 叶绿素荧光成像分析仪IN-Leaf200是一款面向植物光合作用研究的仪器，以高灵敏度CMOS成像单元为核心，配合可精确调控的LED光控模块，能够对植物叶片开展快速、无损的叶绿素荧光检测与成像分析。可广泛应用于植物生理学、生态学、农学与环境科学等领域的科研与教学工作。
来因科技原位根系分析系统|原位根系分析仪IN-RS800多期时序分析：支持多个已保存的时序匹配结果按时间顺序自动汇总，直观展示各区间动态变化及根系从萌发到消亡的完整生命周期链路。历史记录管理：统一记录扫描根系、荧光标记根系、时序匹配和多时序分析四类结果，支持按类型、时间、文件夹筛选，分页、缩略图预览、结果恢复、目录打开及上传状态查看，便于数据追溯与管理。
来因科技微根管原位根系分析系统/根系生长动态监测系统IN-RS800专项指标分析：支持根瘤智能识别及体积占比测算、盒维数与分形拟合评价、根尖段长分布分析，以及分叉角、交叠角与根轴质量的综合评价，为根系生理与生态研究提供多维数据支撑。
来因科技复合根系生长动态监测系统|根系生长监测系统IN-RS800根系参数分析：单次分析即可输出根长、直径、表面积、体积、空间宽深比等基础形态参数，并自动解析根系网络的根轴识别、父子层级、拓扑连接、交叠关系及多级根系统计。
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