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来因科技原位根系分析仪/原位根系分析系统IN-GXY是一款土壤根系原位平面多层次图像监测仪，可获取土壤、根系侧面剖面图像，监测土壤中活体根系的生长状态，可获取高分辨率图像用于分析根系的详细结构。
NDVI测量仪是一款面向农业生产管理、生态环境监测、作物表型分析及精准农事决策的便携式植被光谱检测设备。仪器基于非接触式光谱遥感测量原理，可在不破坏植物组织和冠层结构的前提下，快速采集目标叶片或冠层的光谱反射特征，并实时输出 NDVI 等多项植被生理生态参数。
来因科技植物根系分析仪IN-GX02能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积。能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，还能单独地自动分析主根或任意一支侧根的长度、面积、体积等，可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数（可不等间距地自定义）。
来因科技植物冠层分析仪IN-G30图像分析软件可以任意定义图像分析区域（天顶角可分10区，方位角可分10区）。可屏蔽不合理冠层部分：对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠层部分（如缺株、边行问题等）。对不同天顶角起始角和终止角的选择，可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件，通过手动调节阈值，可以更精准的测量出叶面积指数等参数.
来因科技便携式植被覆盖度测量仪IN-GD10，该系统根据图像识别原理实现自动分析，用于植被覆盖度的精确测量，也可用于植被郁闭度的测量。支持10米无线连接成像设备，户外无网络环境也可连接使用，并可远程控制相机在线拍照分析。可生成黑白二色图与彩色对比图，支持PNG、JPEG、BMP格式，分析结果可导出Excel表格。适配安卓移动客户端，软件内置植被、土壤特征模型，支持广泛地域植被盖度和郁闭度测量计算。
来因科技植物表型分析仪 植物表型成像系统IN-Pheno200基于多视角图像序列，采用计算机视觉算法动态生成植物的高精度3D模型，该模型支持真三维空间下的任意缩放、旋转及平移操作，能够量化分析植物处于空间中心点时的表型参数，如株高、冠层体积、分枝角度等结构特征，实现了从二维平面观测到三维立体解析的跨越。
来因科技植物表型分析系统 植物表型成像分析系统IN-Pheno200基于多视角图像序列，采用计算机视觉算法动态生成植物的高精度3D模型，该模型支持真三维空间下的任意缩放、旋转及平移操作，能够量化分析植物处于空间中心点时的表型参数，如株高、冠层体积、分枝角度等结构特征，实现了从二维平面观测到三维立体解析的跨越。
来因科技叶绿素多酚测量仪 植物叶绿素多酚测定仪IN-YL500★3.一次操作可同时测定所有参数，TChl叶绿素总值、Chl叶绿素（a、b）、Anth花青素指数、Flav类黄酮指数、NBI氮平衡指数五种参数同一屏幕同时显示，且可同时储存；测量精度高，内置防强光干扰系统；★大存储空间，5万组数据可进行存储、查看、导出。
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